ニュースリリース

2012年

2012年07月10日

京セラ製太陽電池がフラウンホーファー研究機構の試験でPID耐性を立証

京セラの高品質・高信頼性により、フラウンホーファーの高電圧負荷試験(耐PID試験)に「出力低下ゼロ」で合格した4社のうちの1社に選ばれる

2012年07月10日

ニュースリリースは報道機関向けの発表文章であり、そこに掲載されている情報は発表日現在のものです。ご覧になった時点ではその内容が異なっている場合がありますので、あらかじめご了承ください。

* 海外向けリリースを和訳したものです。


京セラ株式会社(社長:久芳徹夫)は、フラウンホーファー研究機構シリコン太陽光発電研究センター(Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics CSP 、以下フラウンホーファーCSP、ドイツ·ハレ市)が公表した耐PID(potential induced degradation:潜在的に誘発される出力低下)試験の結果当社製太陽電池が再び(テュフ・ラインランドの長期連続試験に続き)、独立機関による品質試験で大きな成功を収めましたのでお知らせします。同試験結果で、京セラ製モジュールは高電圧負荷試験による出力の低下がなかったことが明らかになった。今回の第三者機関による試験結果は、京セラの35年以上におよぶ業界での実績と、品質を重視した製造工程から生まれた、当社製モジュールの高品質ならびに高信頼性を裏付けるものである。

PIDは、太陽電池セルに高い負電圧が流れると(=高電圧を負荷すると)出力が低下する現象である。PID現象によって、個々のモジュールだけでなく、太陽光発電システム全体の総出力や効率が低下する恐れがある。フラウンホーファーCSPの試験によれば、出力低下に対する耐性や、その度合いは各社で大きく異なる。

今年初めに、フラウンホーファーCSPは主要13社の製造元から匿名で太陽電池モジュールを入手し、摂氏50度、相対湿度50%、1000Vの条件の下、表面をアルミ箔で覆い48時間さらすという独自の高電圧負荷試験を実施した。出力を低下せずに試験を終えたのは僅か4製品で、京セラ製モジュールはそのうちの一つだったが、その他9社の製品で部分的あるいは大幅な出力低下が見られた。これらの結果は、各社のモジュールに明らかな差があることを際立たせると同時に、京セラ製が高いPID耐性を備えている数少ないモジュールの一つであることを証明したと言える。

「京セラは業界の先駆者として、35年以上もの間、太陽光発電システムの研究開発および製造に携わってきました。そして、その間に数々の革新や製造技術の開発を遂げ、高品質で長寿命の製品を確立しました。京セラの太陽電池は既に、世界で初めてテュフラインランドの長期連続試験による認証を取得していますが、今回のフラウンホーファーCSPによる試験結果で、弊社の最先端技術と信頼できる実績が、さらに裏付けられました。」と、京セラ株式会社ソーラーエネルギー事業本部長の前田辰巳は述べた。

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各製造工程における京セラの専門技術によって高い品質を確保

京セラは、原料加工(シリコンキャスティング)からセル製造(ウェハースライシング)、完成品(モジュール組立)まで、太陽電池製造工程の全ての段階において、数十年にわたる経験を有している。当社は、研究開発、調達、製造など全ての局面でこの経験を活かし、高品質·高信頼性を備えた太陽電池を提供していく。

ニュースリリースは報道機関向けの発表文章であり、そこに掲載されている情報は発表日現在のものです。ご覧になった時点ではその内容が異なっている場合がありますので、あらかじめご了承下さい。

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