セラミックパッケージ

封止方法について

 

電子デバイスの用途や仕様などによって封止方法はさまざまです。
京セラではセラミックパッケージとリッドを取り扱っており、気密封止や低温での封止など、デバイスの仕様に合わせて、最適な封止方法を提案させていただきます。

セラミックパッケージの代表的な封止方法

封止方法 ガラス封止(Frit材) 樹脂封止(Epoxy系接着剤) はんだ封止 シームウェルド封止
リッド 基材 セラミックス
金属(メタル)
封止温度 320℃~ 120℃-150℃ 320℃ 素子部200℃以下
長所
  • 気密封止
  • 生産性良好
    (連続トンネル炉使用時)
  • 低温(150℃以下)で封止可能
    (搭載する素子への熱の負担が少ない)
  • 気密封止
  • 熱応力が少ない
  • GND・シールド効果有
    (金属リッド使用時)
  • 気密封止
  • 局所加熱
  • GND・シールド効果有
短所
  • 封止温度が比較的高い
  • Frit材に鉛含有(鉛ガラス)
  • 気密性が低い
    (水分透過あり)
  • 封止温度が比較的高い
  • はんだ封止材は鉛含有の
    材料有

パッケージにシールリング
(金具)が必要

備考

鉛フリーガラスもあり
(封止温度460℃)

ガラスリッド、シリコンリッド、
Bステージ(半硬化)Epoxy付きリッドが提供可能

AuSnは真空封止可能 真空封止可能
構造イメージ

パッケージ/リッド
※GND:グランド
気密封止についてはこちらをご覧ください。

封止方法別 取り扱いリッド例

京セラで取り扱っているリッドを封止方法別にご紹介します。

ガラス封止(セラミック/ガラス)
glass_seal
エポキシ封止(セラミック/ガラス/メタル)
epoxy_seal
AuSn封止
ausn_seal
シーム封止(光学材料/メタル)
seam_seal

リッドの製品情報はこちら

その他、封止材が付いていないリッドもご提供可能です。
また、標準品をラインアップしており、カスタム対応も承っております。

パッケージの封止部について

熱履歴や素子の耐熱性などに応じて、封止部の仕様を変更できます。
メタライズなし、メタライズあり、シールリング付きなど、封止方法に合ったパッケージを提案させていただきます。

パッケージの封止部について

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